ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
![](4293820508.files/x003.jpg)
|
НАЦИОНАЛЬНЫЙ
стандарт
РОССИЙСКОЙ
ФЕДЕРАЦИИ
|
ГОСТ Р
53696-
2009
|
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКИЕ
Термины и определения
![](4293820508.files/x004.jpg)
|
Москва
Стандартинформ
2010
|
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в
Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ
«О техническом регулировании», а правила применения национальных стандартов
Российской Федерации - ГОСТ Р
1.0-2004 «Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения»
Сведения о стандарте
1 РАЗРАБОТАН Федеральным
государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский
институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
2 ВНЕСЕН Управлением по
метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ
Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от
15 декабря 2009 г. № 1100-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Информация об изменениях к настоящему стандарту
публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе «Национальные
стандарты», а текст изменений и поправок - в ежемесячно
издаваемых информационных указателях «Национальные стандарты». В случае
пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление
будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе «Национальные
стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также
в информационной системе общего пользования - на официальном сайте
Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети
Интернет
Содержание
Введение
Установленные в стандарте термины, отражающие понятия в
области оптического неразрушающего контроля, расположены в систематизированном
порядке, отражающем систему понятий данной области знания.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный
термин. Некоторые термины сопровождены краткими формами, которые следует
применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
Установленные определения можно при необходимости изменять
по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.
В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия
содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, вместо него
поставлен прочерк.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их
краткая форма - светлым.
В стандарт включены алфавитный указатель содержащихся в нем
стандартизованных терминов на русском языке, справочное приложение А, в
котором приведены термины общих физических понятий и технические термины,
применяемые при оптическом неразрушающем контроле, и справочное приложение Б, в
котором приведены термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем
контроле.
ГОСТ Р
53696-2009
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКИЕ
Термины и определения
Non-destructive testing. Optical
methods.
Terms and definitions
Дата
введения - 2011-01-01
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке,
технике и производстве термины и определения основных понятий в области
оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и
изделий (далее - объекты контроля).
Термины, установленные стандартом, предназначены для
применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной
литературе.
2.1 Основные понятия
2.1.1 оптический неразрушающий
контроль; оптический контроль: Неразрушающий контроль, основанный на
анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля.
2.1.2 контраст дефекта: Отношение
разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них
либо их сумме.
2.1.3 видимость дефекта: Отношение
фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях.
2.2 Методы оптического неразрушающего контроля
2.2.1 метод прошедшего оптического
излучения; метод прошедшего излучения: Метод оптического неразрушающего
контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения,
прошедшего сквозь объект.
2.2.2 метод отраженного оптического
излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на
регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.
2.2.3 метод рассеянного оптического
излучения; метод рассеянного излучения: Метод оптического неразрушающего
контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения,
рассеянного от объекта контроля.
2.2.4 метод собственного оптического
излучения; метод собственного излучения: Метод оптического неразрушающего
контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта
контроля.
2.2.5 метод индуцированного оптического
излучения; метод индуцированного излучения: Метод оптического неразрушающего
контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения,
генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.
2.2.6 спектральный метод оптического
излучения; спектральный метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на анализе спектра оптического излучения после его взаимодействия с
объектом контроля.
2.2.7 когерентный метод оптического
излучения; когерентный метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его
взаимодействия с объектом контроля.
2.2.8 амплитудный метод оптического
излучения; амплитудный метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на регистрации интенсивности оптического излучения после его
взаимодействия с объектом контроля.
2.2.9 временной метод оптического
излучения; временной метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через
объект контроля.
2.2.10 геометрический метод оптического
излучения; геометрический метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на регистрации направления оптического излучения после его
взаимодействия с объектом контроля.
2.2.11 поляризационный метод
оптического излучения; поляризационный метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации
оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.12 фазовый метод оптического
излучения; фазовый метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на регистрации фазы оптического излучения после его взаимодействия с
объектом контроля.
2.2.13 интерференционный метод
оптического излучения; интерференционный метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины,
получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной
объектом контроля.
2.2.14 дифракционный метод оптического
излучения; дифракционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии
когерентного оптического излучения с объектом контроля.
2.2.15 рефракционный метод оптического
излучения; рефракционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на анализе параметров преломления оптического излучения объектом
контроля.
2.2.16 абсорбционный метод оптического
излучения; абсорбционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения объектом
контроля.
2.2.17 визуально-оптический метод
оптического излучения; визуально-оптический метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его
изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов.
2.2.18 фотохимический метод оптического
излучения; фотохимический метод: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при
взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.19 оптико-акустический метод
оптического излучения; оптико-акустический метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического
эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом
контроля.
2.2.20 фотолюминесцентный метод
оптического излучения; фотолюминесцентный метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции,
возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.21 электрооптический метод
оптического излучения; электрооптический метод: Поляризационный метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии
на объект контроля внешнего электрического поля.
2.2.22 магнитооптический метод
оптического излучения; магнитооптический метод: Поляризационный метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии
на объект контроля магнитного поля.
2.2.23 метод согласованной фильтрации
оптического излучения; метод согласованной фильтрации: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с
помощью оптического согласованного фильтра.
2.2.24 метод разностного оптического
изображения; метод разностного изображения: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях
объекта контроля и контрольного образца.
2.2.25 метод фотоэлектрического
оптического излучения; метод фотоэлектрического излучения: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров
фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля
оптическим излучением.
2.2.26 метод спекл-интерферометрии
оптического излучения; метод спекл-интерферометрии: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной
корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для
получения интерференционных топограмм объекта контроля.
2.2.27 метод спекл-структур оптического
излучения; метод спекл-структур: Метод оптического неразрушающего контроля,
основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного
оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.
2.2.28 метод муаровых полос: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта
контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.
2.2.29 фотоимпульсный метод контроля
геометрических размеров изделия; фотоимпульсный метод: Метод оптического неразрушающего
контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения,
пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с
помощью сканирования его изображения.
2.2.30 фотокомпенсационный метод
контроля геометрических размеров изделия; фотокомпенсационный метод: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений
интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических
размеров объекта контроля от контрольного образца.
2.2.31 фотоследящий метод контроля
геометрических размеров изделия; фотоследящий метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего
устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.
2.2.32 голографический метод
оптического неразрушающего контроля; голографический метод: -
2.3 Средства оптического неразрушающего контроля
2.3.1 прибор неразрушающего контроля
оптический: Система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих
устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для
оптического неразрушающего контроля.
Примечание - При наличии
у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических
характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.
2.3.2 источник излучения прибора
оптического неразрушающего контроля; источник излучения: Часть прибора
оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или
освещения объекта контроля.
2.3.3 оптическая система: Часть
прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования
пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.
2.3.4 приемное устройство: Часть
прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации
первичного информативного параметра оптического излучения после его
взаимодействия с объектом контроля.
Примечание - В
зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и
другие приемные устройства.
2.3.5 оптический дефектоскоп: Прибор
оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения
несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.
2.3.6 лазерный эллипсометр: Прибор
оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и
(или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом
2.3.7 оптический структуроскоп: Прибор
оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и
(или) физико-химических свойств материалов и изделий.
2.3.8 оптический толщиномер: Прибор
оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины
объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.
2.4 Освещение объекта контроля
2.4.1 световое сечение: Освещение
объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.
2.4.2 темное поле: Освещение
объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности,
на которой они расположены.
2.4.3 светлое поле: Освещение
объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности,
на которой они расположены.
2.4.4 стробоскопическое облучение: Облучение
объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза
которого синхронизированы с движением объекта контроля.
2.4.5 когерентное облучение: Облучение
объекта контроля когерентным излучением.
2.4.6 монохроматическое облучение: -
2.4.7 полихроматическое облучение: Облучение
объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.
2.4.8 сканирующее облучение: Облучение
объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.
2.4.9 телецентрическое облучение: Облучение
объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.
2.4.10 стигматическое облучение: Облучение
объекта контроля точечным источником оптического излучения.
Видимость
дефекта
|
2.1.3
|
Дефектоскоп
оптический
|
2.3.5
|
Источник
излучения
|
2.3.2
|
Источник
излучения прибора оптического неразрушающего контроля
|
2.3.2
|
Контраст
дефекта
|
2.1.2
|
Контроль
неразрушающий оптический
|
2.1.1
|
Контроль
оптический
|
2.1.1
|
Метод
абсорбционный
|
2.2.16
|
Метод амплитудный
|
2.2.8
|
Метод
визуально-оптический
|
2.2.17
|
Метод временной
|
2.2.9
|
Метод
геометрический
|
2.2.10
|
Метод
голографический
|
2.2.32
|
Метод
дифракционный
|
2.2.14
|
Метод
индуцированного излучения
|
2.2.5
|
Метод
индуцированного оптического излучения
|
2.2.5
|
Метод
интерференционный
|
2.2.13
|
Метод когерентный
|
2.2.7
|
Метод контроля
геометрических размеров изделия фотоимпульсный
|
2.2.29
|
Метод контроля
геометрических размеров изделия фотокомпенсационный
|
2.2.30
|
Метод контроля
геометрических размеров изделия фотоследящий
|
2.2.31
|
Метод магнитооптический
|
2.2.22
|
Метод муаровых
полос
|
2.2.28
|
Метод
оптико-акустический
|
2.2.19
|
Метод
оптического излучения абсорбционный
|
2.2.16
|
Метод
оптического излучения амплитудный
|
2.2.8
|
Метод
оптического излучения визуально-оптический
|
2.2.17
|
Метод
оптического излучения временной
|
2.2.9
|
Метод
оптического излучения геометрический
|
2.2.10
|
Метод
оптического излучения дифракционный
|
2.2.14
|
Метод
оптического излучения интерференционный
|
2.2.13
|
Метод оптического
излучения когерентный
|
2.2.7
|
Метод
оптического излучения магнитооптический
|
2.2.22
|
Метод
оптического излучения оптико-акустический
|
2.2.19
|
Метод
оптического излучения поляризационный
|
2.2.11
|
Метод
оптического излучения рефракционный
|
2.2.15
|
Метод
оптического излучения спектральный
|
2.2.6
|
Метод
оптического излучения фазовый
|
2.2.12
|
Метод оптического
излучения фотолюминесцентный
|
2.2.20
|
Метод
оптического излучения фотохимический
|
2.2.18
|
Метод
оптического излучения электрооптический
|
2.2.21
|
Метод
оптического неразрушающего контроля голографический
|
2.2.32
|
Метод
отраженного оптического излучения
|
2.2.2
|
Метод
поляризационный
|
2.2.11
|
Метод прошедшего
излучения
|
2.2.1
|
Метод прошедшего
оптического излучения
|
2.2.1
|
Метод разностного
изображения
|
2.2.24
|
Метод
разностного оптического изображения
|
2.2.24
|
Метод рассеянного
излучения
|
2.2.3
|
Метод
рассеянного оптического излучения
|
2.2.3
|
Метод рефракционный
|
2.2.15
|
Метод
собственного излучения
|
2.2.4
|
Метод
собственного оптического излучения
|
2.2.4
|
Метод
согласованной фильтрации
|
2.2.23
|
Метод
согласованной фильтрации оптического излучения
|
2.2.23
|
Метод
спекл-интерферометрии
|
2.2.26
|
Метод
спекл-интерферометрии оптического излучения
|
2.2.26
|
Метод
спекл-структур
|
2.2.27
|
Метод
спекл-структур оптического излучения
|
2.2.27
|
Метод
спектральный
|
2.2.6
|
Метод фазовый
|
2.2.12
|
Метод
фотоимпульсный
|
2.2.29
|
Метод
фотокомпенсационный
|
2.2.30
|
Метод
фотолюминесцентный
|
2.2.20
|
Метод
фотоследящий
|
2.2.31
|
Метод
фотохимический
|
2.2.18
|
Метод
фотоэлектрического излучения
|
2.2.25
|
Метод
фотоэлектрического оптического излучения
|
2.2.25
|
Метод
электрооптический
|
2.2.21
|
Облучение
когерентное
|
2.4.5
|
Облучение
монохроматическое
|
2.4.6
|
Облучение
полихроматическое
|
2.4.7
|
Облучение
сканирующее
|
2.4.8
|
Облучение
стигматическое
|
2.4.10
|
Облучение
стробоскопическое
|
2.4.4
|
Облучение
телецентрическое
|
2.4.9
|
Поле светлое
|
2.4.3
|
Поле темное
|
2.4.2
|
Прибор
неразрушающего контроля оптический
|
2.3.1
|
Сечение
световое
|
2.4.1
|
Система
оптическая
|
2.3.3
|
Структуроскоп оптический
|
2.3.7
|
Толщиномер
оптический
|
2.3.8
|
Устройство
приемное
|
2.3.4
|
Эллипсометр
лазерный
|
2.3.6
|
Термины общих физических понятий и технические термины,
применяемые при оптическом неразрушающем контроле
А.1 спекл-структура: Случайное распределение
интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.
А.2 сканирование: Анализ исследуемого пространства
путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения
по полю обзора.
Термины приборов, применяемых при оптическом
неразрушающем контроле
Б.1 эндоскоп: Оптический прибор, имеющий
осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей
объекта контроля.
Б.2 оптический компаратор: Оптический прибор,
предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного
образца.
Б.3 субтрактивный видеоанализатор: Оптический прибор
для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного
образца.
Б.4 оптический дисдрометр: Оптический
прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.
Ключевые
слова: оптический неразрушающий контроль, методы оптические, оптическое
излучение, оптический дефектоскоп, контраст дефекта, оптическая система