МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
Термины, определения и буквенные обозначения Electron microscopes. Terms definitions and letter symbols |
ГОСТ |
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 17 июля 1975 г. № 1835 дата введения установлена
Ограничение срока действия снято Постановлением Госстандарта СССР от 10.12.81 № 5329
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения величин электронных микроскопов.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе. Приведенные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятия.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Применение терминов-синонимов стандартизованного термина запрещается. Недопустимые к применению термины-синонимы приведены в стандарте в качестве справочных и обозначены пометой «Ндп».
Для отдельных стандартизованных терминов в стандарте приведены в качестве справочных их краткие формы, которые разрешается применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
В стандарте в качестве справочных для ряда стандартизованных терминов приведены иностранные эквиваленты на немецком (D) и английском языках (Е).
В стандарте приведены алфавитные указатели содержащихся в нем терминов на русском языке и их иностранных эквивалентов.
К стандарту дано приложение, содержащее термины общих понятий электронно-оптических приборов.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы - курсивом.
Буквенное обозначение |
Определение |
|
1. Электронный микроскоп D. Elektronenmikroskop E. Electron Microscope F. Microscope électronique |
- |
Микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками средствами электронной оптики |
ОСНОВНЫЕ ВИДЫ ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРОСКОПОВ |
||
2. Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Ндп. Трансмиссионный электронный микроскоп D. Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop E. Transmission electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, проходящими сквозь этот объект |
3. Растровый электронный микроскоп (РЭМ) Ндп. Сканирующий электронный микроскоп D. Rasterelelektronenmikroskop E. Scanning electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом |
4. Отражательный электронный микроскоп D. Reflexions-Eletronenmikroskop E. Reflection electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, отраженными этим объектом |
5. Эмиссионный электронный микроскоп D. Emissions-Elektronenmikroskop E. Emission electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом |
6. Зеркальный электронный микроскоп D. Spiegelelektronenmikroskop E. Mirror electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта, являющегося катодом электронного зеркала |
7. Автоэлектронный проектор Ндп. Микропроектор Микроскоп-проектор |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом под воздействием электрического поля |
КОНСТРУКТИВНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРОСКОПОВ |
||
8. Электронная пушка электронного микроскопа Электронная пушка D. Elektronenstranhler E. Electron gun |
- |
Эмиссионная система, предназначенная для ускорения электронов в электронном микроскопе |
9. Электронное зеркало D. Elektronenspiegel E. Electron mirror |
- |
Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для изменения направления осевых составляющих скоростей электронов электронного пучка на обратное |
10. Видеоконтрольное устройство растрового электронного микроскопа (ВКУ) |
- |
Система визуального наблюдения процессов, протекающих в растровом электронном микроскопе при взаимодействии электронного зонда с объектом |
11. Электронная линза электронного микроскопа Линза D. Elektronenlinse E. Electron lens |
- |
Электронно-оптический элемент, предназначенный для фокусировки электронных пучков в электронном микроскопе |
12. Магнитная линза электронного микроскопа Магнитная линза D. Magnetische Linse E. Magnetic lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем |
13. Электростатическая линза электронного микроскопа Электростатическая линза D. Elecktrische Linse E. Electric lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков электрическим полем |
14. Формирующая линза |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая электронный зонд в плоскости объекта |
15. Конденсаторная линза электронного микроскопа Конденсор D. Kondensorlinse E. Condenser lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков, освещающих объект |
16. Двойной конденсатор электронного микроскопа Двойной конденсор D. Doppelkondensor E. Double condenser |
- |
Часть электронно-оптической системы, состоящая из двух конденсаторных линз, предназначенная для фокусировки электронных пучков, освещающих объект |
17. Объективная линза электронного микроскопа Объектив D. Objektivlinse E. Objective lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая первое увеличенное изображение объекта |
18. Дифракционная линза |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая промежуточное изображение объекта или его дифракционной картины в предметной плоскости промежуточной линзы |
19. Промежуточная линза электронного микроскопа Промежуточная линза D. Zwischenlinse E. Intermediate lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая промежуточное изображение объекта или его дифракционной картины в предметной плоскости проекционной линзы |
20. Проекционная линза электронного микроскопа Проекционная линза Ндп. Проектив D. Projektiv E. Projector |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая увеличенное конечное изображение объекта или его дифракционной картины |
21. Регистрирующая система электронного микроскопа Регистрирующая система |
- |
Устройство, предназначенное для регистрации электронов и вторичных излучений в электронном микроскопе |
22. Фотокамера электронного микроскопа Фотокамера D. Aufnahmekammer E. Photographic chamber |
- |
Часть регистрирующей системы электронного микроскопа, предназначенная для фотографирования изображения в электронных пучках |
23. Вакуумная система электронного микроскопа Вакуумная система D. Vakuumanlage E. Vacuum system |
- |
Система, предназначенная для создания вакуума в электронном микроскопе |
24. Юстировочная система электронного микроскопа Юстировочная система |
- |
Устройство, предназначенное для совмещения электронного пучка с оптической осью электронно-оптической системы электронного микроскопа |
25. Отклоняющая система электронного микроскопа Отклоняющая система D. Ablenksystem E. Deflection system |
- |
Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями |
26. Стигматор D. Stigmator E. Stigmator |
- |
Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для исправления приосевого астигматизма |
27. Полюсный наконечник электронного микроскопа Полюсный наконечник D. Polschuh E. Pole piese |
- |
Часть магнитопровода электронного микроскопа, концентрирующая поле магнитной линзы в приосевой области |
28. Колонна электронного микроскопа Колонна D. Mikroskoprohr E. Microscope column |
- |
Совокупность конструктивно объединенных электронно-оптических и механических элементов электронного микроскопа |
29. Шлюзовое устройство электронного микроскопа Шлюз D. Schleuse E. Airlock |
- |
Устройство, предназначенное для ввода и вывода из колонны электронного микроскопа сменных элементов без существенного нарушения в ней рабочего вакуума |
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА В ПРОСВЕЧИВАЮЩЕМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ |
||
30. Светлопольное изображение D. Hellfeldabbildung E. Bright-field image |
- |
Изображение, сформированное в просвечивающем электронном микроскопе электронными пучками, содержащими нерассеянные в объекте электроны, а также рассеянные в пределах апертурного угла объективной линзы |
31. Темнопольное изображение D. Dunkelfeldabbildung E. Dark-field image |
- |
Изображение, сформированное в просвечивающем электронном микроскопе только рассеянными в объекте электронными пучками |
32. Микродифракция D. Feinbereichsbeugung E. Selected ared diffraction |
- |
Дифракционное изображение малого участка объекта, сформированное в задней фокальной плоскости объективной линзы и увеличенное электронными линзами просвечивающего электронного микроскопа |
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ |
||
33. Изображение во вторичных электронах D. Abbildung mit sekundärelelektronen E. Secondary-Emission mobe |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием вторичных электронов от объекта |
34. Изображение в отраженных электронах D. Abbildung mit Rückstreuelektronen E. Backscackscattered Electron mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием отраженных от объекта электронов |
35. Изображение в поглощенных электронах D. Abbildung mit Probenstömen E. Absorbed specimen current mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием электронов, поглощенных объектом |
36. Катодолюминесцентное изображение D. Abbildung mit Kathodolumineszenz E. Cathodoluminescence mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием оптического излучения, возбуждаемого в объекте электронным зондом |
37. Изображение в наведенном электронным зондом токе D. Abbildung mit induzierten Probenströmen E. Induced current mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием тока, возникающего в цепи с полупроводниковым объектом при воздействии на него электронного зонда |
38. Изображение в рентгеновском характеристическом излучении |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием характеристического рентгеновского излучения, возбуждаемого в объекте электронным зондом |
39. Изображение в Оже-электронах |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием Оже-электронов |
40. Изображение в прошедших электронах |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе электронами, прошедшими сквозь объект |
41. Изображение картин каналирования электронов D. Abbildung mit Channelling Diagrammen E. Electron Channeling Pattern mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием эффекта каналирования электронных пучков в объекте |
42. Изображение при Y-модуляции |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе сложением видеосигнала с током (напряжением) кадровой развертки |
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА В ЭМИССИОННОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ |
||
43. Изображение во вторичных электронах при ионной бомбардировке |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием вторичных электронов, возникающих при бомбардировке объекта ионами |
44. Изображение во вторичных электронах при электронной бомбардировке |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием вторичных электронов, возникающих при бомбардировке объекта электронами |
45. Изображение в термоэлектронах |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием термоэлектронов, испускаемых объектом при нагревании |
46. Изображение в фотоэлектронах |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием фотоэлектронов, испускаемых объектом под действием оптического излучения |
ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ |
||
47. Ускоряющее напряжение электронного микроскопа Ускоряющее напряжение D. Beschleunigungsspannung E. Accelerating voltage |
U |
Разность потенциалов, определяющая энергию электронов в осветительной системе электронного микроскопа |
48. Нестабильность напряжения электронного микроскопа Нестабильность напряжения |
DU |
Самопроизвольное изменение значения ускоряющего напряжения электронного микроскопа во времени |
49. Нестабильность тока электронного микроскопа Нестабильность тока |
Dl |
Самопроизвольное изменение значения тока электронного микроскопа во времени |
50. Электронно-оптическое увеличение электронного микроскопа D. Elektronenoptische Vergröberung E. Electron optical magnification |
мэ |
Отношение линейного размера изображения, полученного непосредственно в электронном микроскопе, к линейному размеру соответствующего элемента объекта |
51. Общее увеличение D. Gesamtvergröberung E. Total magnification |
мo |
Увеличение изображения объекта, равное произведению электронно-оптического увеличения и дополнительного увеличения, полученного вне электронного микроскопа |
52. Разрешающая способность электронного микроскопа D. Auflösungsvermögen E. Resolving power |
δ |
Наименьшее расстояние между двумя деталями объекта, раздельно изображаемыми в электронном микроскопе |
53. Разрешающая способность электронного микроскопа по кристаллической решетке D. Netzebenenabbildung E. Lattice plane resolution |
δр |
Наименьшее межплоскостное расстояние кристаллической решетки, плоскости которой изображаются раздельно в электронном микроскопе |
54. Разрешающая способность электронного микроскопа по точкам D. Punktauflösung E. Point resolution |
δт |
Наименьшее расстояние между двумя микрочастицами объекта, раздельно изображаемыми в электронном микроскопе |
55. Электронная яркость D. Richtsrtahlwert E. Brightnes |
В |
Ток электронного пучка в пределах единичного телесного угла, приходящийся на единицу площади облучаемой поверхности |
56. Апертурный угол формирующей линзы |
aФ |
Половина угла расхождения траекторий электронов в электронном зонде |
57. Апертурный угол объективной линзы электронного микроскопа Апертурный угол объективной линзы |
aоб |
Половина угла расхождения траекторий электронов, покидающих объект и формирующих изображение |
58. Апертурный угол осветительной системы электронного микроскопа Апертурный угол осветительной системы |
aос |
Половина угла расхождения траекторий электронов, падающих на объект |
Зеркало электронное |
|
Изображение в наведенном электронном зондом токе |
|
Изображение во вторичных электронах |
|
Изображение во вторичных электронах при ионной бомбардировке |
|
Изображение во вторичных электронах при электронной бомбардировке |
|
Изображение в Оже-электронах |
|
Изображение в отраженных электронах |
|
Изображение в поглощенных электронах |
|
Изображение в прошедших электронах |
|
Изображение в рентгеновском характеристическом излучении |
|
Изображение в термоэлектронах |
|
Изображение в фотоэлектронах |
|
Изображение картин каналирования электронов |
|
Изображение катодолюминесцентное |
|
Изображение при У-модуляции |
|
Изображение светлопольное |
|
Изображение темнопольное |
|
Колонна |
|
Колонна электронного микроскопа |
|
Конденсор |
|
Конденсор двойной |
|
Конденсор электронного микроскопа двойной |
|
Линза |
|
Линза дифракционная |
|
Линза магнитная |
|
Линза проекционная |
|
Линза промежуточная |
|
Линза формирующая |
|
Линза электронного микроскопа конденсорная |
|
Линза электронного микроскопа магнитная |
|
Линза электронного микроскопа объективная |
|
Линза электронного микроскопа проекционная |
|
Линза электронного микроскопа промежуточная |
|
Линза электронного микроскопа электронная |
|
Линза электронного микроскопа электростатическая |
|
Линза электростатическая |
|
Микродифракция |
|
Микропроектор |
|
Микроскоп-проектор |
|
Микроскоп электронный |
|
Микроскоп электронный зеркальный |
|
Микроскоп электронный отражательный |
|
Микроскоп электронный просвечивающий |
|
Микроскоп электронный растровый |
|
Микроскоп электронный сканирующий |
|
Микроскоп электронный трансмиссионный |
|
Микроскоп электронный эмиссионный |
|
Наконечник полюсный |
|
Наконечник электронного микроскопа полюсный |
|
Напряжение ускоряющее |
|
Напряжение электронного микроскопа ускоряющее |
|
Нестабильность напряжения |
|
Нестабильность напряжения электронного микроскопа |
|
Нестабильность тока |
|
Нестабильность тока электронного микроскопа |
|
Объектив |
|
Проектив |
|
Проектор автоэлектронный |
|
Пушка электронная |
|
Пушка электронного микроскопа электронная |
|
пэм |
|
РЭМ |
|
Система вакуумная |
|
Система отклоняющая |
|
Система регистрирующая |
|
Система электронного микроскопа вакуумная |
|
Система электронного микроскопа отклоняющая |
|
Система электронного микроскопа регистрирующая |
|
Система электронного микроскопа юстировочная |
|
Система юстировочная |
|
Способность электронного микроскопа по кристаллической решетке разрешающая |
|
Способность электронного микроскопа по точкам разрешающая |
|
Способность электронного микроскопа разрешающая |
|
Стигматор |
|
Увеличение общее |
|
Увеличение электронного микроскопа электронно-оптическое |
|
Угол объективной линзы апертурный |
|
Угол объективной линзы электронного микроскопа апертурный |
|
Угол осветительной системы апертурный |
|
Угол осветительной системы электронного микроскопа апертурный |
|
Угол формирующей линзы апертурный |
|
Устройство растрового электронного микроскопа видеоконтрольное |
|
Устройство электронного микроскопа шлюзовое |
|
Фотокамера |
|
Фотокамера электронного микроскопа |
|
Шлюз |
|
Яркость электронная |
Abbildung mit Channelling Diagrammen |
|
Abbildung mit Kathodolumineszengz |
|
Abbildung mit induzierten Probenströmen |
|
Abbildung mit Probenstömen |
|
Abbildung mit Rückstreuelektronen |
|
Abbildung mit sekundärelelektronen |
|
Ablenksystem |
|
Auflösungsvermögen |
|
Aufnahmekammer |
|
Beschleunigungsspannung |
|
Doppelkondensor |
|
Dunkelfeldabbildung |
|
Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop |
|
Elektrische Linse |
|
Elektronenlinse |
|
Elektronenmikroskop |
|
Elektronenoptische Vergröberung |
|
Elektronenspiegel |
|
Elektronenstrahler |
|
Emissions-Elektronenmikroskop |
|
Feinbereichsbeugung |
|
Gesamtvergröberung |
|
Hellfeldabbildung |
|
Kondensorlinse |
|
Magnetische Linse |
|
Mikroskoprohr |
|
Netzebenenabbildung |
|
Objektivlinse |
|
Polschuh |
|
Projektiv |
|
Punktauflösung |
|
Rasterelelektronenmikroskop |
|
Reflexions-Elektronenmikroskop |
|
Richtsrtahlwert |
|
Schleuse |
|
Spiegelelektronenmikroskop |
|
Stigmator |
|
Vakuumanlage |
|
Zwischenlinse |
Absorbed specimen current mode |
|
Accelerating voltage |
|
Airlock |
|
Backscattered Electron mode |
|
Bright-field image |
|
Brightness |
|
Cathodoluminescence mode |
|
Condenser lens |
|
Dark-field image |
|
Deflection system |
|
Double condenser |
|
Electric lens |
|
Electron Channeling Pattern mode |
|
Electron gun |
|
Electron lens |
|
Electron microscope |
|
Electron mirror |
|
Electron optical magnification |
|
Emission electron microscope |
|
Induced current mode |
|
Intermediate lens |
|
Lattice plane resolution |
|
Magnetic lens |
|
Microscope column |
|
Mirror electron microscope |
|
Objective lens |
|
Photographic chamber |
|
Point resolution |
|
Pole piese |
|
Projector |
|
Reflection electron microscope |
|
Resolving power |
|
Scanning electron microscope |
|
Secondary-Emission mode |
|
Selected ared diffraction |
|
Stigmator |
|
Total magnification |
|
Transmission electron microscope |
|
Vacuum system |
Справочное
Пояснение |
|
1. Электронно-оптический элемент |
Устройство, предназначенное для формирования электронных пучков или управления ими электрическими и (или) магнитными полями |
2. Электронно-оптическая система |
Совокупность электронно-оптических элементов |
3. Осветительная система |
Часть электронно-оптической системы, предназначенной для формирования электронных пучков, освещающих объект |
4. Изображающая система |
Часть электронно-оптической системы, формирующая увеличенное изображение объекта или дифракционной картины |
5. Аберрация |
Искаженное изображение объекта, возникающее вследствии непараксиальности и немонохроматичности электронных пучков, дифракции электронов |
6. Электронный луч |
Совокупность электронов, движущихся по одной траектории |
7. Электронный пучок |
Совокупность электронных лучей, имеющих общую точку |
8. Кроссовер |
Минимальное сечение электронного пучка в эмиссионной системе |
9. Электронный зонд |
Электронный пучок, имеющий минимальное сечение в заданной плоскости |
10. Эмиссионная система |
Электронно-оптическая система, предназначенная для формирования электронного пучка и управления его интенсивностью |
11. Фиктивный катод Нрк. Мнимый источник |
Мнимое изображение катода, образованное полем, прилегающим непосредственно к катоду |
12. V-образный катод Нрк. Шпилькообразный катод |
Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого является эмиттером |
13. Остроконечный катод Нрк. Точечный катод Игольчатый катод Острийный катод |
Катод, эмиттер которого имеет заостренный конец |
14. Объект исследования Нрк. Препарат Образец |
Предмет, исследуемый в электронном микроскопе |
15. Столик объектов |
Устройство, предназначенное для установки и перемещения объектов |
16. Апертурная диафрагма |
Диафрагма, ограничивающая апертурный угол |
17. Селекторная диафрагма |
Диафрагма, ограничивающая участок объекта, с которого получают дифракционную картину |
СОДЕРЖАНИЕ