Информационная система
«Ёшкин Кот»

Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союзаСтроительная документацияТехническая документация

Найти:
Где:
Отображать:
Упорядочить:

Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Дата актуализации: 01.07.2023

ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.696-2010
Статус:действует
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
Дата актуализации текста:01.06.2022
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:11.04.2019
Дата введения:01.09.2010
Нормативные ссылки:ГОСТ 12.1.005;ГОСТ 12.1.045
Область применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Метрология и измерения. Физические явления Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Классификатор государственных стандартов Общетехнические и организационно-методические стандарты Государственная система измерений Методики выполнения измерений Тематические сборники Государственная система обеспечения единства измерений.
ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010

© 2013 Ёшкин Кот :-) Карта сайта