| Обозначение: |   ГОСТ Р 59743.2-2022 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта |
| Название англ.: | Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations |
| Дата актуализации текста: | 01.01.2023 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.08.2022 |
| Дата введения: | 01.03.2023 |
| Содержит требования: | ISO 14880-2:2006 |
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ Р 8.745;ГОСТ Р 59743.1;ГОСТ Р ИСО 15367-2 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз |
|
| Расположен в: |
|