Скачать ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем

Дата актуализации: 01.07.2023

ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001

Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем

Обозначение:	ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Статус:	действует
Название рус.:	Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Название англ.:	Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	01.01.2021
Дата издания:	27.04.2001
Дата введения:	01.07.2002
Код ОКП:	633000
Аутентичен стандартам:	IEC 60748-11-1(1992)
Область применения:	Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
Расположен в:	Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Интегральные схемы. Микроэлектроника Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Общие правила и нормы по электронной технике, радиоэлектронике и связи Нормы расчета и проектирования Окп Электронная техника, кроме резисторов и конденсаторов Приборы электронные-микросхемы интегральные