| Обозначение: |  ГОСТ Р 57394-2017 |
| Обозначение англ: | GOST R 57394-2017 |
| Статус: | Введен впервые |
| Название рус.: | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность |
| Название англ.: | Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation |
| Дата добавления в базу: | 01.01.2018 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.01.2018 |
| Область применения: | Стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, предусматривающие форсирование режимов эксплуатации. |
| Оглавление: | 1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины, определения и сокращения
4 Общие положения
5 Подготовка к введению ускоренных испытаний на безотказность
6 Определение режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность
7 Определение режима и продолжительности ускоренных длительных испытаний на безотказность
Приложение А (справочное) Модели коэффициентов ускорения для различных механизмов отказов
Приложение Б (рекомендуемое) Определение коэффициента ускорения отказов изделий с учетом нескольких механизмов отказов
Приложение В (рекомендуемое) Определение констант ускорения n и альфа в моделях коэффициента ускорения оттока и напряжения
Приложение Г (рекомендуемое) Определение значения энергии активации на основе параллельных испытаний выборок в различных режимах
Приложение Д (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по накопленным данным
Приложение Е (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам испытаний со ступенчато-возрастающей нагрузкой
Приложение Ж (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам электротермотренировки при ступенчато-возрастающей нагрузке
Приложение И (рекомендуемое) Форма обобщения результатов испытаний при определении режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность
Приложение К (рекомендуемое) Форма программы работ по определению режимов ускоренных испытаний
Приложение Л (обязательное) Методы определения границ области допустимого форсирования
Приложение М (рекомендуемое) Форма решения об утверждении режимов ускоренных кратковременных и длительных испытаний на безотказность и введения этих испытаний в систему испытаний на безотказность
Приложение Н (рекомендуемое) Форма программы и методики ускоренных испытаний на безотказность
Приложение П (справочное) Примеры расчета режимов и продолжительности ускоренных испытаний на безотказность
Библиография |
| Разработан: | АО РНИИ Электронстандарт
АО ЦКБ Дейтон
ФГУП МНИИРИП
АО Росэлектроника
|
| Утверждён: | 27.02.2017 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (74-ст)
|
| Издан: | Стандартинформ (2017 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Нормативные ссылки: | |