| Обозначение: | МИ 41-75 |
| Обозначение англ: | MI 41-75 |
| Статус: | Действует |
| Название рус.: | Методика выполнения измерений параметров шероховатости поверхности по ГОСТ 2789-73 при помощи приборов профильного метода |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 19.04.1974 |
| Область применения: | Методика распространяется на методы выполнения измерений параметров шероховатости при помощи приборов профильного метода. |
| Оглавление: | 1. Применение контактных профилографов с графической регистрацией профиля, микроинтерферометров, приборов светового сечения 2. Применение контактных профилометров последовательного преобразования профиля системы М |
| Разработан: | ВНИИМС
|
| Утверждён: | 19.04.1974 ВНИИМС (VNIIMS 10)
|
| Издан: | Издательство стандартов (1975 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Нормативные ссылки: | |