| Обозначение: |  ГОСТ Р 8.698-2010 |
| Обозначение англ: | GOST R 8.698-2010 |
| Статус: | Введен впервые |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.09.2010 |
| Область применения: | Стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:
- максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.
Стандарт распространяется на:
- материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;
- многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках. |
| Оглавление: | 1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Приложение А (обязательное) Вычисление суммарного критерия качества функции распределения по расстояниям
Библиография |
| Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
|
| Утверждён: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (12-ст)
|
| Издан: | Стандартинформ (2010 г. )
Стандартинформ (2019 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Нормативные ссылки: | |