| Обозначение: |  ГОСТ Р 8.696-2010 |
| Обозначение англ: | GOST R 8.696-2010 |
| Статус: | Введен впервые |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.09.2010 |
| Область применения: | Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус 14 до 10 в ст. минус 6 А. Стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния. |
| Оглавление: | 1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Приложение А (справочное) Результаты измерений межплоскостных расстояний в кристалле и интенсивности рефлексов в дифракционной картине
Библиография |
| Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ФГУП Российский научный центр Курчатовский институт
ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
|
| Утверждён: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (10-ст)
|
| Издан: | Стандартинформ (2010 г. )
Стандартинформ (2019 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Нормативные ссылки: | |