Информационная система
«Ёшкин Кот»

Государственные стандартыСтроительная документацияТехническая документацияАвтомобильные дороги Классификатор ISO Мостостроение Национальные стандарты Строительство Технический надзор Ценообразование Экология Электроэнергия

Найти:
Где:
Тип документа:
Отображать:
Упорядочить:

Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Дата актуализации: 01.01.2021

ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.696-2010
Обозначение англ: GOST R 8.696-2010
Статус:Введен впервые
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.09.2010
Область применения:Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус 14 до 10 в ст. минус 6 А. Стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Приложение А (справочное) Результаты измерений межплоскостных расстояний в кристалле и интенсивности рефлексов в дифракционной картине
Библиография
Разработан: ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ФГУП Российский научный центр Курчатовский институт
ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
Утверждён:10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (10-ст)
Издан: Стандартинформ (2010 г. )
Стандартинформ (2019 г. )
Расположен в:Техническая документация Электроэнергия МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Экология МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом
Нормативные ссылки:
ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010

© 2013 Ёшкин Кот :-) Карта сайта