| Обозначение: |  ГОСТ 28624-90 |
| Обозначение англ: | GOST 28624-90 |
| Статус: | Действует |
| Название рус.: | Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы |
| Название англ.: | Semiconductor devices. Part 11. Sectional specification for discrete devices |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.01.1991 |
| Оглавление: | Предисловие
Введение
1. Область применения
2. Общие положения
2.1 Используемые документы
2.2 Рекомендуемые значения температур (предпочтительные значения)
2.3 Рекомендуемые значения напряжений и токов (предпочтительные значения)
2.4 Обозначение выводов
2.4.1 Диоды
2.4.2 Транзисторы
2.4.3 Тиристоры
2.5 Цветовой код для обозначения типа приборов
2.5.1 Обозначение приборов типа JEDEC
2.5.2 Обозначение приборов типа PRO ELECTRON
2.5.3 Обозначение приборов других видов
3. Порядок сертификации изделий
3.1 Основной этап технологического процесса
3.2 Конструктивно-подобные приборы
3.2.1 Объединение приборов для проведения электрических испытаний
3.2.2 Объединение приборов для проверки размеров, проведения климатических и механических испытаний
3.2.3 Объединение приборов для проведения испытаний на срок службы
3.3 Требования контроля при утверждении соответствия изделий ТУ
3.4 Контроль соответствия заданному уровню качества
3.5 Испытания по группе D
3.6 Отбраковочные испытания
3.7 Планы выборочного контроля
4. Методы испытаний и измерений |
| Утверждён: | 23.07.1990 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 2246)
|
| Расположен в: |
|