| Обозначение: |  ГОСТ 19834.4-79 |
| Обозначение англ: | GOST 19834.4-79 |
| Статус: | Действует |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения |
| Название англ.: | Semiconductor rediating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.07.1981 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7 - 2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения. |
| Оглавление: | 1 Метод непосредственной оценки
2 Аппаратура
3 Подготовка и проведение измерений
4 Обработка результатов
5 Показатели точности измерений
6 Метод замещения
Приложение 1 (рекомендуемое) Устройства и приспособления, применяемые при измерении мощности излучения
Приложение 2 (справочное) Информационные данные о соответствии ГОСТ 19834.4-79 СТ СЭВ 3788-82 |
| Утверждён: | 27.12.1979 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 5087)
|
| Издан: | Издательство стандартов (1979 г. )
ИПК Издательство стандартов (2000 г. )
|
| Расположен в: |
|