| Обозначение: |  ГОСТ 19656.15-84 |
| Обозначение англ: | GOST 19656.15-84 |
| Статус: | Действует |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления |
| Название англ.: | Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.01.1986 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивлений. |
| Оглавление: | 1 Метод измерения с использованием зависимости прямого напряжения диода от температуры и разогревом импульсами СВЧ-мощности (метод I)
2 Метод измерения с использованием зависимости прямого напряжения диода от температуры и разогревом импульсами прямого тока (метод II)
3 Метод измерения с использованием зависимости порогового тока диодов Ганна от температуры (метод III)
4 Метод измерения с использованием зависимости обратного напряжения лавинно-пролетных диодов от температуры (метод IV)
Приложение 1 Метод измерения температурного коэффициента прямого напряжения диода (ТКН)
Приложение 2 Метод измерения коэффициента потерь СВЧ-мощности в элементах конструкции диодной камеры
Приложение 3 Расчет погрешности измерения теплового сопротивления |
| Утверждён: | 24.08.1984 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 2996)
|
| Издан: | Издательство стандартов (1984 г. )
|
| Расположен в: |
|