| Обозначение: |  ГОСТ 18986.14-85 |
| Обозначение англ: | GOST 18986.14-85 |
| Статус: | Действует |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistance |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.07.1986 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны. |
| Оглавление: | 1 Метод замещения
2 Резонансный метод с параллельным контуром
3 Резонансный метод с последовательным контуром
4 Мостовой метод
Приложение 1 Информационные данные о соответствии ГОСТ 18986.14-85 СТ СЭВ 2769-80
Приложение 2 Расчет погрешности измерения |
| Утверждён: | 23.05.1985 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 1448)
|
| Издан: | Издательство стандартов (1985 г. )
ИПК Издательство стандартов (2004 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Заменяет собой: |  ГОСТ 18986.14-75 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения дифференциального сопротивления» - ГОСТ 19656.8-74 «Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения дифференциального сопротивления»
|