Библиотека государственных стандартов

Дата актуализации: 01.07.2023

Обозначение	Дата введения	Статус
ГОСТ 28578-90 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания	01.01.1991	действует
Название англ.: Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам) Нормативные ссылки: IEC 60749(1984), ISO/R 817:1974;IEC 60068-1(1988);IEC 60068-2-21(1983);IEC 60068-2-20(1978);IEC 60068-2-6(1982);IEC 60068-2-27(1987);IEC 60068-2-7(1983);IEC 60068-2-47(1982);IEC 60747-1(1983);IEC 60748-1(1984);IEC 60068-2-14(1984);IEC 60068-2-48(1982);IEC 60068-2-13(1983);IEC 60068-2-30(1987);IEC 60068-2-3(1969);IEC 60068-2-38(1977);IEC 60068-2-17(1978);IEC 60068-2-11(1981);IEC 60695-2-2(1980);IEC 60068-2-45(1980);ГОСТ 28198-89;ГОСТ 28199-89;ГОСТ 28200-89;ГОСТ 28201-89;ГОСТ 28202-89;ГОСТ 28203-89;ГОСТ 28204-89;ГОСТ 28205-89;ГОСТ 28206-89;ГОСТ 28207-89;ГОСТ 28208-89;ГОСТ 28209-89;ГОСТ 28210-89;ГОСТ 28211-89;ГОСТ 28212-89;ГОСТ 28213-89;ГОСТ 28214-89;ГОСТ 28215-89;ГОСТ 28216-89;ГОСТ 28217-89;ГОСТ 28218-89;ГОСТ 28219-89;ГОСТ 28220-89;ГОСТ 28221-89;ГОСТ 28222-89;ГОСТ 28223-89;ГОСТ 28224-89;ГОСТ 28225-89;ГОСТ 28226-89;ГОСТ 28227-89;ГОСТ 28228-89;ГОСТ 28229-89;ГОСТ 28230-89;ГОСТ 28231-89;ГОСТ 28232-89;ГОСТ 28233-89;ГОСТ 28234-89;ГОСТ 28235-89;ГОСТ 28236-89