Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику коррекции систематической ошибки, которая возникает при испытании фотоэлектрических приборов и вызвана, с одной стороны, несоответствием между спектром излучения, используемого при испытаниях, и стандартным спектром излучения, и, с другой стороны, несоответствием между спектральной чувствительностью (СЧ) эталонного элемента и испытуемого образца Нормативные ссылки: IEC 60904-7(2008), IEC 60891(2008);IEC 60904-1(2006);IEC 60904-2(2007);IEC 60904-3(2008);IEC 60904-8(1998);IEC 60904-9(2007);IEC 60904-10(2010);IEC 61215(2005);IEC 61646(2008) |