| Название англ.: Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 "Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения" и полностью ему соответствуют Нормативные ссылки: IEC 60748-1(1984), IEC 60747-1(1983);IEC 60748-2(1985);IEC 60748-3(1986);IEC 60319(1978) |