ГОСТ Р 59743.2-2022

Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта

Обозначение: ГОСТ Р 59743.2-2022
Статус:действует
Название рус.:Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
Название англ.:Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations
Дата актуализации текста:01.01.2023
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:01.08.2022
Дата введения:01.03.2023
Содержит требования:ISO 14880-2:2006
Нормативные ссылки:ГОСТ Р 8.745;ГОСТ Р 59743.1;ГОСТ Р ИСО 15367-2
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Оптоэлектроника. Лазерное оборудование
ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022ГОСТ Р 59743.2-2022