Обозначение: | ![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем |
Название англ.: | Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.01.2021 |
Дата издания: | 27.04.2001 |
Дата введения: | 01.07.2002 |
Код ОКП: | 633000 |
Аутентичен стандартам: | IEC 60748-11-1(1992) |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов |
|
Расположен в: |
|