Обозначение: | ГОСТ 26239.5-84 |
Обозначение англ: | GOST 26239.5-84 |
Статус: | Действует |
Название рус.: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
Название англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
Дата актуализации: | 01.01.2021 |
Дата введения: | 01.01.1986 |
Оглавление: | 1 Общие требования 2 Аппаратура, материалы и реактивы 3 Подготовка к анализу 4 Проведение анализа 5 Обработка результатов |
Утверждён: | 13.07.1984 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 2490) |
Расположен в: |