| Обозначение: |   ГОСТ 18986.14-85 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.05.2004 |
| Дата введения: | 01.07.1986 |
| Код ОКП: | 621000 |
| Взамен: |  ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74 |
| Содержит требования: | CT CЭB 2769-80 |
| Нормативные ссылки: | ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны |
|
| Расположен в: |
|