| Обозначение: |   ГОСТ 19834.2-74 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости |
| Название англ.: | Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.01.2021 |
| Дата издания: | 01.02.1984 |
| Дата введения: | 01.01.1976 |
| Код ОКП: | 621000 |
| Содержит требования: | СТ СЭВ 3788-82 |
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ 19834.0-75 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;метод замещения;методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный |
| Список изменений: | №1 от 01.07.1984 (рег. 06.12.1983) «Срок действия продлен»
№2 от 01.10.1987 (рег. 31.05.1987) «Срок действия продлен» |
|
| Расположен в: |
|