| Обозначение: |   ГОСТ 19834.4-79 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения |
| Название англ.: | Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.04.2000 |
| Дата введения: | 01.07.1981 |
| Код ОКП: | 621000 |
| Содержит требования: | СТ СЭВ 3788-82 |
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ 9411-91;ГОСТ 17616-82;ГОСТ 19834.0-75 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения |
| Список изменений: | №1 от 01.07.1984 (рег. 06.12.1983) «Срок действия продлен»
№2 от 01.01.1987 (рег. 26.06.1986) «Поправка» |
|
| Расположен в: |
|