| Обозначение: |   ГОСТ 8.593-2009 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification |
| Дата актуализации текста: | 01.01.2021 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата регистрации: | 11.11.2009 |
| Дата издания: | 09.12.2019 |
| Дата введения: | 01.11.2010 |
| Аутентичен стандартам: |  ГОСТ Р 8.630-2007 |
| Нормативные ссылки: | ГОСТ 8.591;ГОСТ 8.592;ГОСТ 12.2.061;ГОСТ ИСО 14644-1;ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592 |
|
| Расположен в: |
|