ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Обозначение:	ГОСТ 8.593-2009
Статус:	действует
Название рус.:	Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название англ.:	State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата актуализации текста:	01.01.2021
Дата актуализации описания:	01.07.2023
Дата регистрации:	11.11.2009
Дата издания:	09.12.2019
Дата введения:	01.11.2010
Аутентичен стандартам:	ГОСТ Р 8.630-2007
Нормативные ссылки:	ГОСТ 8.591;ГОСТ 8.592;ГОСТ 12.2.061;ГОСТ ИСО 14644-1;ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017
Область применения:	Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592
Расположен в:	Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Метрология и измерения. Физические явления Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Классификатор государственных стандартов Общетехнические и организационно-методические стандарты Государственная система измерений Методики поверки и метрологической аттестации Тематические сборники Государственная система обеспечения единства измерений.