| Обозначение: |   ГОСТ Р 8.700-2010 |
| Обозначение англ: | GOST R 8.700-2010 |
| Статус: | Введен впервые |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Method of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.11.2010 |
| Область применения: | Стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м. |
| Оглавление: | 1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Библиография |
| Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
ГУ Российской академии наук Институт кристаллографии имени А.В. Шубникова
|
| Утверждён: | 05.04.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (54-ст)
|
| Издан: | Стандартинформ (2010 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Нормативные ссылки: | |