| Обозначение: |  ГОСТ 24523.1-80 |
| Обозначение англ: | GOST 24523.1-80 |
| Статус: | Введен впервые |
| Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения двуокиси кремния |
| Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for the determination of silicon dioxide |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.07.1983 |
| Область применения: | Стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения масовых долей двуокиси кремния в диапазоне от 0,2 до 3,0 %. |
| Оглавление: | 1 Общие требования
2 Аппаратура, реактивы и растворы
3 Проведение анализа
4 Обработка результатов |
| Разработан: | Министерство черной металлургии СССР
|
| Утверждён: | 30.12.1980 Государственный комитет СССР по стандартам (USSR National Committee on Standards 6281)
|
| Издан: | ИПК Издательство стандартов (2004 г. )
|
| Расположен в: |
|
| Список изменений: | |
| Нормативные ссылки: | |