ГОСТ Р 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017
Статус:действует
Название рус.:Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Название англ.:Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата актуализации текста:05.05.2017
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата издания:17.04.2017
Дата введения:01.01.2018
Нормативные ссылки:ГОСТ 20.57.406;ГОСТ 27.002;ГОСТ 16504;ГОСТ 18725
Область применения:Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Расположен в:Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электроника Полупроводниковые приборы Полупроводниковые приборы в целом Интегральные схемы. Микроэлектроника Классификатор государственных стандартов Электронная техника, радиоэлектроника и связь Элементы радиоэлектронной аппаратуры Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017ГОСТ Р 57394-2017