Обозначение: | ![]() ![]() |
Статус: | заменён |
Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения двуокиси кремния |
Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for the determination of silicon dioxide |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
Дата издания: | 01.08.2004 |
Дата введения: | 01.07.1983 |
Дата окончания срока действия: | 01.11.2021 |
Код ОКП: | 349000;157000 |
Заменяющий: | ![]() |
Нормативные ссылки: | ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения массовых долей двуокиси кремния в диапазоне от 0,2 до 3,0%. Сущность метода заключается в образовании желтого комплексного соединения кремнемолибденовой гетерополикислоты, восстановлении его аскорбиновой кислотой в синее комплексное соединение и фотометрировании окрашенного раствора при длине волны 810 нм |
Список изменений: | №1 от 01.07.1988 (рег. 27.10.1987) «Срок действия продлен» №2 от 01.01.1998 (рег. 23.09.1997) «Срок действия продлен» |
Расположен в: |