Область применения: | В настоящем стандарте установлены методы определения содержания свинца, кадмия и хрома в полимерах, металлах и электронике методами AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS. В настоящем стандарте установлены методы определения уровней кадмия (Cd), свинца (Pb) и хрома (Cr) в электротехнических изделиях. Настоящий стандарт охватывает три типа материалов: полимеры/полимерные детали, металлы и сплавы, электронику. В настоящем стандарте образец рассматривается, как объект, подлежащий обработке и измерениям. Что представляет собой образец или как его получить определяется субъектом, проводящим испытания. Дальнейшие руководство по получению типовых образцов из готовых электронных изделий, которые будут проверены на содержание регламентированных веществ, установлено в IEC 62321-2. Следует отметить, что выбор и/или определение образца может повлиять на интерпретацию результатов испытаний. В настоящем стандарте приводится описание четырех методов, а именно: AAS (атомно-абсорбционная спектрометрия), AFS (атомно-флуоресцентная спектрометрия), ICP-OES (оптическая эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой) и ICP-MS (масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой), а также рассматривается несколько процедур подготовки раствора образца, на основании которого эксперты могут выбрать наиболее подходящий метод анализа. Как показал анализ шестивалентного хрома, его иногда трудно определить в полимерах и электронике, поэтому в настоящем стандарте приведены методы скрининга для хрома в полимерах и электроники, за исключением AFS. Анализ хрома предоставляет информацию о присутствии шестивалентного хрома в материалах. Тем не менее, элементный анализ не может выборочно обнаруживать шестивалентный хром; он определяет количество хрома во всех состояниях окисления в образцах. Если количество хрома превышает предел шестивалентного хрома, должны быть выполнены испытания шестивалентного хрома |