Обозначение: | ![]() ![]() |
Статус: | действует |
Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения оксида кремния (IV) |
Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for determination of silicon (IV) dioxide |
Дата актуализации текста: | 01.01.2022 |
Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
Дата регистрации: | 30.06.2021 |
Дата издания: | 30.08.2021 |
Дата введения: | 01.11.2021 |
Взамен: | ![]() |
Нормативные ссылки: | ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения оксида кремния (IV) при массовой доле от 0,2 % до 3,0 % |
Расположен в: |