Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на дифракционные решетки (далее – решетки), применяемые в спектральных приборах для рентгеновской, вакуумной ультрафиолетовой, ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной областей спектра, для селекции и вывода излучения в лазерах, для измерения линейных перемещений по методу муаровых полос, для поляризации инфракрасного излучения. Настоящий стандарт распространяется на дифракционные решетки, изготавливаемые на делительных машинах путем формования штрихов алмазным резцом в металлических слоях, нанесенных на стеклянные и металлические подложки, в подложках из металлических сплавов, стекла и кристаллов, а также путем копирования с применением полимерных материалов |