| Обозначение: |   ГОСТ 24461-80 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний |
| Название англ.: | Power semiconductor devices. Test and measurement methods |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.08.1990 |
| Дата введения: | 01.01.1982 |
| Код ОКП: | 341700 |
| Содержит требования: | СТ СЭВ 1656-79 |
| Нормативные ссылки: | IEC 60747-1(1983);IEC 60747-2(1983);IEC 60747-6(1983); ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 15150-69 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на силовые полупроводниковые приборы, кроме арсенид-галлиевых приборов, диоды, тиристоры на максимально допустимые средние или действующие токи 10А и более и устанавливает методы измерения параметров и проверки (испытаний) предельно допустимых значений параметров, в том числе условия, схемы, режимы, требования к элементам схем и контрольно-измерительному оборудованию, последовательность операций при измерениях и проверках |
| Список изменений: | №1 от 01.11.1982 (рег. 17.06.1982) «Срок действия продлен»
№2 от 01.06.1988 (рег. 02.12.1987) «Срок действия продлен» |
|
| Расположен в: |
|