Скачать ГОСТ Р 71645-2024 Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей

Дата актуализации: 01.12.2024

ГОСТ Р 71645-2024

Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей

Обозначение:	ГОСТ Р 71645-2024
Статус:	принят
Название рус.:	Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей
Название англ.:	Silicon is a semiconductor. Method of measuring the concentration of impurities
Дата актуализации текста:	01.12.2024
Дата актуализации описания:	01.12.2024
Дата издания:	09.10.2024
Дата введения:	01.03.2025
Нормативные ссылки:	ГОСТ 123;ГОСТ 804;ГОСТ 849;ГОСТ 859;ГОСТ 860;ГОСТ 1089;ГОСТ 1277;ГОСТ 1467;ГОСТ 1770;ГОСТ 3640;ГОСТ 3778;ГОСТ 3885;ГОСТ 4530;ГОСТ 4568;ГОСТ 5905;ГОСТ 6008;ГОСТ 6217;ГОСТ 6835;ГОСТ 9293;ГОСТ 10297;ГОСТ 10691.1;ГОСТ 10928;ГОСТ 11069;ГОСТ 11125;ГОСТ 12797;ГОСТ 13510;ГОСТ 13637.1;ГОСТ 14261;ГОСТ 22622;ГОСТ 24222;ГОСТ 2922;ГОСТ Р 53228;ГОСТ Р 55878
Область применения:	Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемый и модернизируемый полупроводниковый кремний и устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод измерения концентрации примесей с возбуждением спектров разрядов с горячим полым катодом. Интервалы определяемых значений концентрации примесей приведены в приложении А. Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий (ТЗ) на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний (ПИ), опытных образцов, стандартов на методы измерений, номенклатуру показателей системы показателей качества и технического уровня полупроводникового кремния
Расположен в:	Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Электротехника Полупроводниковые материалы