| Название англ.: State system for insuring the uniformity of measurements. Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Область применения: Настоящий стандарт устанавливает минимальный объем информации, которую необходимо включать в протокол при проведении химического анализа поверхности и приповерхностных слоев исследуемого образца с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Настоящий стандарт применяют при проведении количественного и качественного анализа элементного состава исследуемых образцов Нормативные ссылки: ISO 16243:2011, ISO 18115-1 |