Обозначение: | ![]() ![]() |
Статус: | действует |
Название рус.: | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания |
Название англ.: | Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
Дата издания: | 01.05.2005 |
Дата введения: | 01.01.1991 |
Содержит требования: | IEC 60749(1984) |
Нормативные ссылки: | ISO/R 817:1974;IEC 60068-1(1988);IEC 60068-2-21(1983);IEC 60068-2-20(1978);IEC 60068-2-6(1982);IEC 60068-2-27(1987);IEC 60068-2-7(1983);IEC 60068-2-47(1982);IEC 60747-1(1983);IEC 60748-1(1984);IEC 60068-2-14(1984);IEC 60068-2-48(1982);IEC 60068-2-13(1983);IEC 60068-2-30(1987);IEC 60068-2-3(1969);IEC 60068-2-38(1977);IEC 60068-2-17(1978);IEC 60068-2-11(1981);IEC 60695-2-2(1980);IEC 60068-2-45(1980);![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам) |
Расположен в: |