| Обозначение: | ![]() ГОСТ 28578-90 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания |
| Название англ.: | Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.05.2005 |
| Дата введения: | 01.01.1991 |
| Содержит требования: | IEC 60749(1984) |
| Нормативные ссылки: | ISO/R 817:1974;IEC 60068-1(1988);IEC 60068-2-21(1983);IEC 60068-2-20(1978);IEC 60068-2-6(1982);IEC 60068-2-27(1987);IEC 60068-2-7(1983);IEC 60068-2-47(1982);IEC 60747-1(1983);IEC 60748-1(1984);IEC 60068-2-14(1984);IEC 60068-2-48(1982);IEC 60068-2-13(1983);IEC 60068-2-30(1987);IEC 60068-2-3(1969);IEC 60068-2-38(1977);IEC 60068-2-17(1978);IEC 60068-2-11(1981);IEC 60695-2-2(1980);IEC 60068-2-45(1980); ГОСТ 28198-89; ГОСТ 28199-89; ГОСТ 28200-89; ГОСТ 28201-89; ГОСТ 28202-89; ГОСТ 28203-89; ГОСТ 28204-89; ГОСТ 28205-89; ГОСТ 28206-89; ГОСТ 28207-89; ГОСТ 28208-89; ГОСТ 28209-89; ГОСТ 28210-89; ГОСТ 28211-89; ГОСТ 28212-89; ГОСТ 28213-89; ГОСТ 28214-89; ГОСТ 28215-89; ГОСТ 28216-89; ГОСТ 28217-89; ГОСТ 28218-89; ГОСТ 28219-89; ГОСТ 28220-89; ГОСТ 28221-89; ГОСТ 28222-89; ГОСТ 28223-89; ГОСТ 28224-89; ГОСТ 28225-89; ГОСТ 28226-89; ГОСТ 28227-89; ГОСТ 28228-89; ГОСТ 28229-89; ГОСТ 28230-89; ГОСТ 28231-89; ГОСТ 28232-89; ГОСТ 28233-89; ГОСТ 28234-89; ГОСТ 28235-89; ГОСТ 28236-89 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам) |
| Расположен в: | |






















