Обозначение: | ГОСТ 26239.7-84 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота |
Название англ.: | Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
Дата издания: | 21.01.1985 |
Дата введения: | 01.01.1986 |
Нормативные ссылки: | ГОСТ 334-73;ГОСТ 742-78;ГОСТ 828-77;ГОСТ 2156-76;ГОСТ 3647-80;ГОСТ 3760-79;ГОСТ 4204-77;ГОСТ 4461-77;ГОСТ 4828-83;ГОСТ 5072-79;ГОСТ 6709-72;ГОСТ 10297-75;ГОСТ 10484-78;ГОСТ 18300-87;ГОСТ 20288-74;ГОСТ 26239.0-84;ОСП-72/87 |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен» |
Расположен в: |