Информационная система
«Ёшкин Кот»

Государственные стандартыДекларация о соответствии Единый перечень продукции ТС Классификатор государственных стандартов Атомная техника Горное дело. Полезные ископаемые Здравоохранение. Предметы санитарии и гигиены Изделия культурно-бытового назначения Измерительные приборы. Средства автоматизации и вычислительной техники Лесоматериалы. Изделия из древесины. Целлюлоза. Бумага, картон Машины, оборудование и инструмент Металлы и металлические изделия Нефтяные продукты Общетехнические и организационно-методические стандарты Пищевые и вкусовые продукты Сельское и лесное хозяйство Силикатно-керамические и углеродные материалы и изделия Строительство и стройматериалы Текстильные и кожевенные материалы и изделия Транспортные средства и тара Химические продукты и резиноасбестовые изделия Электронная техника, радиоэлектроника и связь Аппаратура записи и воспроизведения информации Аппаратура и оборудование для радиовещания и телевидения Аппаратура и оборудование связи Машины электронные вычислительные, устройства и приборы к ним Общие правила и нормы по электронной технике, радиоэлектронике и связи Радиотехнические материалы Технологическое и контрольно-испытательное оборудование для изготовления и контроля качества изделий радиоэлектроники Элементы радиоэлектронной аппаратуры Квантовая электроника Классификация, номенклатура и общие нормы Методы испытаний. Упаковка. Маркировка Микроэлектроника Полупроводниковые приборы Радиокомпоненты Резисторы и конденсаторы Электронные и ионные приборы Энергетическое и электротехническое оборудование Общероссийский классификатор стандартов Обязательная сертификация Окп Тематические сборники Технические регламенты РФ Технические регламенты Таможенного союза Строительная документацияТехническая документация

Найти:
Где:
Отображать:
Упорядочить:

Библиотека государственных стандартов

Дата актуализации: 01.07.2023

1 2 3 [4] 5 6 7 8 9 10 . . . 20 (629 найдено)
ОбозначениеДата введенияСтатус
ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения01.01.1976действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров Нормативные ссылки: ГОСТ 12.0.004-90;ГОСТ 12.1.004-91;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;СТ СЭВ 1622-79
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10963-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-2B;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10961-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-23;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3198-81, ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.6-73;ГОСТ 19656.0-74
ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления01.01.1975действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64, ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3198-81
ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности01.07.1976действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов: метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь01.07.1985действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.11-74, СТ СЭВ 3199-81, IEC 60147-2F;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода01.07.1976действует
Название англ.: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.11-74
ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора01.07.1976действует
Название англ.: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений01.07.1986действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74, CT CЭB 2769-80, ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74
ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации01.01.1977действует
Название англ.: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68, СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока01.01.1974действует
Название англ.: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Нормативные ссылки: IEC 60147-2A;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации01.07.1974действует
Название англ.: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости01.07.1974действует
Название англ.: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3199-81, ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.4-73
ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности01.01.1975действует
Название англ.: Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3199-81
ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим01.01.1979действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации01.01.1980действует
Название англ.: Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления01.01.1980действует
Название англ.: Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе Нормативные ссылки: ГОСТ 15603-70, СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума01.01.1982действует
Название англ.: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения01.07.1984действует
Название англ.: Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
ГОСТ 19138.0-85 Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров01.01.1987действует
Название англ.: Thyristors. General requirements for methods of measuring parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает общие требования к методам измерения параметров. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.0-74, CT CЭB 1622-79, ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.2.091-83;ГОСТ 12.3.119-80;ГОСТ 20.57.406-81
ГОСТ 19138.1-85 Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения01.01.1987действует
Название англ.: Thyristors. Method for measuring switching voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает метод измерения напряжения переключения. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.1-73, IEC 60747-6;ГОСТ 19138.0-85
ГОСТ 19138.2-85 Тиристоры триодные. Метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления01.01.1987действует
Название англ.: Triode thyristors. Method for measuring trigger direct and peak gate current and trigger direct and peak gate voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.2-73;ГОСТ 19138.11-75, IEC 60747-6;ГОСТ 19138.0-85
ГОСТ 19138.3-85 Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения01.01.1987действует
Название англ.: Triode thyristors. Method for measuring turn-off time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени выключения. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.3-73, IEC 60747-6;ГОСТ 19138.0-85
ГОСТ 19138.4-73 Тиристоры. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки01.07.1975действует
Название англ.: Thyristors. Method for measuring turn-on, rise and delay times Область применения: Настоящий стандарт распространяется на диодные тиристоры малой и средней мощности с максимально допустимым постоянным током в открытом состоянии не более 10 А и устанавливает метод измерения времени включения, нарастания и задержки Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.0-85
ГОСТ 19138.5-85 Тиристоры триодные. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки01.01.1987действует
Название англ.: Triode thyristors. Method for measuring turn-on, rise and delay time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени включения, нарастания и задержки. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.5-74, IEC 60747-6;ГОСТ 19138.0-85
ГОСТ 19138.6-86 Тиристоры. Методы измерения электрических параметров01.07.1987действует
Название англ.: Thyristors. Methods for measuring electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает методы измерения: критической скорости нарастания напряжения в закрытом состоянии; тока удержания и тока включения; постоянного и повторяющегося импульсного тока в закрытом состоянии, постоянного и повторяющегося импульсного обратного тока; постоянного и импульсного напряжения в открытом состоянии; неотпирающего постоянного и импульсного напряжения управления триодных тиристоров. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.6-74;ГОСТ 19138.8-75;ГОСТ 19138.9-75;ГОСТ 19138.10-75, IEC 60747-6;ГОСТ 19138.0-85
ГОСТ 19138.7-74 Тиристоры. Метод измерения импульсного запирающего тока управления, импульсного запирающего напряжения управления, импульсного коэффициента запирания01.07.1975действует
Название англ.: Thyristors. Measurement method of peak gate turn-off current, peak gate turn-off voltage, peak turn-off coefficient Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные запираемые тиристоры малой и средней мощности с максимально допустимым постоянным током в открытом состоянии не более 10 А и устанавливает метод измерения импульсного запирающего тока управления импульсного запирающего напряжения управления тиристора и импульсного коэффициента запирания Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.0-85
1 2 3 [4] 5 6 7 8 9 10 . . . 20 (629 найдено)

© 2013 Ёшкин Кот :-) Карта сайта