| Обозначение | Дата введения | Статус |
 ГОСТ 18720.14-77 Трубки телевизионные передающие. Метод определения контрастной чувствительности | 01.01.1979 | заменён |
Название англ.: Television camera tubes. Methods of plotting for contrast sensitivity Нормативные ссылки:  ГОСТ 18720-90 |
| ГОСТ 18720.15-77 Трубки телевизионные передающие. Метод измерения времени готовности | 01.01.1979 | заменён |
| Название англ.: Television camera tubes. Method of measuring for readiness time Нормативные ссылки: ГОСТ 18720-90 |
| ГОСТ 18720.16-85 Трубки телевизионные передающие. Метод измерения запирающего напряжения и напряжения модуляции | 01.01.1986 | заменён |
| Название англ.: Television camera tubes. Methods of measuring ent-off voltage and modulation voltage Нормативные ссылки: ГОСТ 18720-90, ГОСТ 17791-82;ГОСТ18720.0-80 |
| ГОСТ 18720.17-85 Трубки телевизионные передающие. Метод определения качества фона изображения | 01.07.1986 | заменён |
| Название англ.: Television camera tubes. Determination of background quality Нормативные ссылки: ГОСТ 18720-90, ГОСТ 17791-82;ГОСТ 18720.0-80 |
| ГОСТ 18720.18-85 Трубки телевизионные передающие. Метод измерения сопротивления изоляции и токов утечки между электродами | 01.01.1986 | заменён |
| Название англ.: Television camera tubes. Methods of measuring insulation resistance and leakage cuvvent between electrodes Нормативные ссылки: ГОСТ 18720-90, ГОСТ18720.0-80;ГОСТ 7113-77 |
 ГОСТ 18720-90 Трубки телевизионные передающие. Методы измерения параметров | 01.07.1991 | действует |
| Название англ.: Television camera tubes. Methods of measuring for parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на передающие телевизионные трубки, предназначенные для работы в телевизионных системах, и устанавливает методы измерения следующих параметров и характеристик: тока сигнала; световой чувствительности; разрешающей способности; глубины модуляции сигнала; геометрических искажений изображения; спектральной чувствительности; световой характеристики и показателя гамма; неравномерности сигнала по полю изображения; инерционности; темнового тока и его неравномерности; неравномерности белого и темного фона; отношения сигнал/шум; контрастной чувствительности; послеизображения; времени готовности; запирающего напряжения и напряжения модуляции; качества фона изображения; сопротивления изоляции и токов утечки между электродами Нормативные ссылки: ГОСТ 18720.0-80;ГОСТ 18720.1-80;ГОСТ 18720.2-80;ГОСТ 18720.3-80;ГОСТ 18720.4-80;ГОСТ 18720.5-80;ГОСТ 18720.6-80;ГОСТ 18720.7-80;ГОСТ 18720.8-80;ГОСТ 18720.9-76;ГОСТ 18720.10-76;ГОСТ 18720.11-76;ГОСТ 18720.12-77;ГОСТ 18720.13-77;ГОСТ 18720.14-77;ГОСТ 18720.15-77;ГОСТ 18720.16-85;ГОСТ 18720.17-85;ГОСТ 18720.18-85, СТ СЭВ 2755-80;СТ СЭВ 2756-80;СТ СЭВ 3710-82;СТ СЭВ 3711-82;СТ СЭВ 3988-83;СТ СЭВ 4748-84;СТ СЭВ 4750-84;СТ СЭВ 5138-85;СТ СЭВ 6034-87;СТ СЭВ 6035-78;СТ СЭВ 6421-88;СТ СЭВ 4749-84;СТ СЭВ 1353-78, ГОСТ 8.332-78;ГОСТ 12.0.004-79;ГОСТ 12.1.004-85;ГОСТ 12.1.010-76;ГОСТ 12.1.019-79;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.1.038-82;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.2.032-78;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 12.3.028-82;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 5072-79;ГОСТ 7721-79;ГОСТ 14872-82;ГОСТ 20466-75;ОЖО.467.107 ТУ |
| ГОСТ 18862-73 Кинескопы для черно-белого телевидения. Метод измерения контраста | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Kinescopes for black-and-white television. Method of contrast measurement Область применения: Настоящий стандарт распространяется на кинескопы для черно-белого телевидения и устанавливает метод измерения контраста экрана кинескопа путем измерения яркости свечения смежных белых и черных полей воспроизводимого изображения в виде шахматного поля Нормативные ссылки: ГОСТ 8.332-78;ГОСТ 7324-80;ГОСТ 7845-79;ГОСТ 8711-78;ГОСТ 10413-79;ГОСТ 21059.0-75 |
| ГОСТ 18933-73 Трубки электроннолучевые приемные (кинескопы). Методы испытания на взрывобезопасность | 01.07.1974 | действует |
| Название англ.: Picture tubes (kinescopes). Explosion proof test methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на взрывобезопасные кинескопы с диагональю экрана более 16 см, предназначенные для широковещательного черно-белого и цветного телевидения и устанавливает следующие методы испытания на взрывобезопасность кинескопов: термоударом и механическим ударом, и критерии оценки эффективности взрывозащиты. Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 1618-79 и Публикации МЭК 65 Нормативные ссылки: СТ СЭВ 1618-85, IEC 65;ГОСТ 9293-74;ГОСТ 10111-74;ГОСТ 4407-72 |
| ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров Нормативные ссылки: ГОСТ 12.0.004-90;ГОСТ 12.1.004-91;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;СТ СЭВ 1622-79 |
| ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10963-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-2B;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10961-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-23;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64, СТ СЭВ 2769-80, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3198-81, ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.6-73;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64, ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3198-81 |
| ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 01.07.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов: метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 01.07.1985 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.11-74, СТ СЭВ 3199-81, IEC 60147-2F;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 01.07.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.11-74 |
| ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 01.07.1976 | действует |
| Название англ.: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74, CT CЭB 2769-80, ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации | 01.01.1977 | действует |
| Название англ.: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68, СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 01.01.1974 | действует |
| Название англ.: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Нормативные ссылки: IEC 60147-2A;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | 01.07.1974 | действует |
| Название англ.: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 01.07.1974 | действует |
| Название англ.: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3199-81, ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.4-73 |
| ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности | 01.01.1975 | действует |
| Название англ.: Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3199-81 |
| ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | 01.01.1979 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | 01.01.1980 | действует |
| Название англ.: Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления | 01.01.1980 | действует |
| Название англ.: Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе Нормативные ссылки: ГОСТ 15603-70, СТ СЭВ 3200-81, IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума | 01.01.1982 | действует |
| Название англ.: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
| ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения | 01.07.1984 | действует |
| Название англ.: Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |