| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ Р ИСО 12005-2013 Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений параметров лазерных пучков. Поляризация | 01.01.2015 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на методику (способ) определения состояния поляризации и, по возможности, степени поляризации пучка непрерывного лазерного излучения. Методика (способ) применимы также в случае импульсно-модулированных (генерирующих регулярную последовательность идентичных импульсов) лазеров, если ориентация их электрического вектора остается неизменной для всей последовательности. |
| ГОСТ Р ИСО 19980-2013 Офтальмологические приборы. Топографы роговицы глаза | 01.07.2014 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на средства измерений и системы измерений формы поверхности роговицы глаза человека, относящиеся к классу корнеотопографов и устанавливает требования к методам испытаний определять, что система или инструмент соответствует стандарту и является корнеотопографом в смысле этого международного стандарта. В стандарте также указаны определенные испытания и методики, которые позволят проводить проверку возможностей систем, которые находятся за пределами минимальных требований, необходимых для корнеотопографов. |
 ГОСТ Р ИСО/ТО 11146-3-2008 Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений ширин, углов расходимости и коэффициентов распространения лазерных пучков. Часть 3. Собственная и геометрическая классификация лазерных пучков, специфика их распространения и методики измерений | 01.01.2010 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт разработан в развитие стандарта ИСО 11146-1 методы измерений ширин (диаметра) пучка, углов расходимости и коэффициентов распространения пучков лазерного излучения. Стандарт содержит теоретическое описание характеристик пучка, базирующееся на моментах второго порядка распределения Вигнера, включая геометрические и специфические именно для лазерного излучения характеристики пучка. |
| ГОСТ Р МЭК 60825-12-2009 Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 12. Безопасность систем оптической связи в свободном пространстве, используемых для передачи информации | 01.01.2011 | Отменен |
| Область применения: Стандарт устанавливает требования и специальные правила для производства и безопасного использования лазерных систем и изделий в свободном пространстве при передаче информации оптическими передающими устройствами. Стандарт распространяется только на системы с открытым лучом. Если части оборудования или системы включают в себя оптическое волокно, которое продолжается за пределы ограждения(ий), то требования МЭК 60825-1 к производству и безопасности относится только к этим частям. Требования стандарта не применяют к системам, сконструированным с целью передачи оптической мощности для таких применений, как обработка материала или медицинское лечение. Требования стандарта также не применяют при использовании систем, работающих во взрывоопасной газовой среде. В стандарте к светоизлучающим диодам обычно применяют термин «лазер». |
| ГОСТ Р МЭК 60904-2-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным приборам | 01.01.2015 | Взамен |
| Область применения: Стандарт распространяется на эталонные солнечные приборы, используемые для определения электрических характеристик солнечных элементов, модулей и панелей при естественном и искусственном солнечном освещении и устанавливает требования к классификации, выбору, корпусированию, маркировке, калибровке и правилам обращения с эталонными солнечными приборами. Стандарт не распространяется на эталонные солнечные приборы, предназначенные для использования при концентрированном солнечном излучении. Заменяет собой: |
| ГОСТ Р МЭК 60904-7-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 7. Вычисление поправки на спектральное несоответствие при испытаниях фотоэлектрических приборов | 01.07.2015 | Действует |
| Область применения: Стандарт устанавливает методику коррекции систематической ошибки, которая возникает при испытании фотоэлектрических приборов и вызвана, с одной стороны, несоответствием между спектром излучения, используемого при испытаниях, и стандартным спектром излучения, и, с другой стороны, несоответствием между спектральной чувствительностью (СЧ) эталонного элемента и испытуемого образца. |