Обозначение: | ![]() ![]() |
Статус: | действует |
Название рус.: | Транзисторы. Методы измерения емкостей коллекторного и эмиттерного переходов |
Название англ.: | Transistors bipolar. Methods for measuring collector and emitter capacitances |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.01.2021 |
Дата издания: | 01.12.1985 |
Дата введения: | 01.01.1982 |
Код ОКП: | 634012;634100 |
Взамен: | ![]() |
Содержит требования: | СТ СЭВ 3999-83 |
Нормативные ссылки: | ![]() |
Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на биполярные транзисторы и устанавливает два метода измерения емкостей коллекторного и эмиттерного переходов: с использованием резистивно-емкостного делителя; с использованием моста. Метод с использованием резистивно-емкостного делителя применяют в производственных измерениях, требующих высокой производительности. Метод с использованием моста применяют в лабораторных и производственных измерениях, требующих высокой точности |
Список изменений: | №1 от 01.07.1985 (рег. 28.04.1984) «Срок действия продлен» №2 от 01.10.1987 (рег. 24.06.1987) «Поправка» |
Расположен в: |