Обозначение | Дата введения | Статус |
ГОСТ 24458-80 Оптопары полупроводниковые. Основные параметры | 01.01.1982 | действует |
Название англ.: Semiconductor optoelectronic couplers. Essential parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на диодные, транзисторные и тиристорные оптопары, предназначенные для использования в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает ряды основных электрических параметров |
ГОСТ 25212-82 Лазеры. Методы измерения энергии импульсов излучения | 01.01.1983 | утратил силу в РФ |
Название англ.: Lasers. Methods for measurement of one pulse energy Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методы измерения энергии излучения лазеров, работающих в режиме однократного импульса, серии импульсов и периодической последовательности импульсов (частотном): - метод прямых измерений; - метод измерения с использованием ослабителя; - метод измерения с использованием измерителя средней мощности; - метод измерения с использованием формирователя серии импульсов Нормативные ссылки: ГОСТ Р ИСО 11554-2008, ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 24286-88;ГОСТ 24453-80;ГОСТ 24714-81;ГОСТ 25213-82 |
ГОСТ 25213-82 Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения | 01.07.1983 | действует |
Название англ.: Methods for measurement of the pulse length and the pulse repetition frequency Область применения: Настоящий стандарт устанавливает два метода измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения лазеров, работающих в режиме однократного импульса. серии импульсов и периодической последовательности импульсов (частотном): А - метод непосредственной оценки; Б - метод, основанный на воспроизведении формы импульса излучения Нормативные ссылки: ГОСТ 24714-81 |
ГОСТ 25368-82 Средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения. Типы и основные параметры. Методы измерений | 01.07.1983 | действует |
Название англ.: Means for measurement of pulse laser radiation maximum power. Types and main parameters. Measuring methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на образцовые и рабочие средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения и устанавливает их типы, основные параметры и характеристики, а также методы измерения основных параметров и характеристик при изменении параметров исследуемого излучения. Настоящий стандарт не распространяется на измерительные генераторы импульсов оптического излучения Нормативные ссылки: ГОСТ 8.198-76;ГОСТ 24469-80 |
ГОСТ 25369-82 Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров | 01.07.1983 | действует |
Название англ.: Measuring photocells. Basic parameters, measuring methods of basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы измерительные, предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений Нормативные ссылки: ГОСТ 8.198-76;ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 12.2.003-74;ГОСТ 4248-78;ГОСТ 9411-81;ГОСТ 24469-80 |
ГОСТ 25370-82 Фотоумножители измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров | 01.07.1983 | действует |
Название англ.: Measuring photomultipliers. Basic parameters, measuring methods of basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители измерительные (ФЭУ), предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений Нормативные ссылки: ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 12.2.003-74;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 24469-80 |
ГОСТ 25373-82 Лазеры измерительные. Типы, основные параметры и технические требования | 01.07.1984 | утратил силу в РФ |
Название англ.: Measuring lasers. Types. Basic parameters. Technical requirements Область применения: Настоящий стандарт устанавливает типы, основные параметры и технические требования к измерительным лазерам непрерывного и импульсного режима работы, предназначенным для использования в составе поверочных установок и средств измерения энергетических, спектральных, пространственных и временных параметров лазерного излучения Нормативные ссылки: ГОСТ Р ИСО 11554-2008, ГОСТ 8.009-84;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 24469-80;ГОСТ 24714-81 |
ГОСТ 25786-83 Лазеры. Методы измерений средней мощности, средней мощности импульса, относительной нестабильности средней мощности лазерного излучения | 01.07.1984 | действует |
Название англ.: Lasers. Measuring methods of average power, pulse average power, relative average power instability Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазеры и излучатели лазеров непрерывного и импульсного режимов работы в диапазоне длин волн 0,25-11,8 мкм Нормативные ссылки: ГОСТ 24714-81;ГОСТ 25213-82 |
ГОСТ 25819-83 Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения | 01.01.1984 | действует |
Название англ.: Lasers. Methods of pulse laser radiation peak power measurement Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазеры импульсного режима работы и излучатели к ним и устанавливает два метода измерения максимальной мощности импусльного лазерного излучения: метод прямых измерений максимальной мощности; метод косвенных измерений максимальной мощности Нормативные ссылки: ГОСТ 8.198-76;ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 24469-80;ГОСТ 24714-81 |
ГОСТ 26086-84 Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения | 01.07.1985 | действует |
Название англ.: Lasers. Methods for measurement of beam diameter and beam energy divergence angle Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного и импульсного режимов работы и устанавливает методы измерения: - диаметра пучка излучения: - метод калиброванных диафрагм, - метод распределения плотности энергии (мощности) лазерного излучения; - энергетической расходимости лазерного излучения: - метод фокального пятна, - метод двух сечений Нормативные ссылки: ГОСТ 24714-81;ГОСТ 25212-82;ГОСТ 25786-83;ГОСТ 25917-83 |
ГОСТ 28624-90 Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы | 01.01.1991 | действует |
Название англ.: Semiconductor devices. Part 11. Sectional specification for discrete devices Область применения: Настоящий стандарт распространяетя на полупроводниковые дискретные приборы, за исключением оптоэлектронных приборов Нормативные ссылки: IEC 60747-11(1985), IEC 60068-2-17(1978);IEC 60147-2В(1970);IEC 60147-2С(1970);IEC 60147-2М(1980);IEC 60191-2(1966);IEC 60747-1(1983);IEC 60747-2(1983);IEC 60747-6(1983);IEC 60747-8(1984);IEC 60747-10(1984);IEC 60749(1984);ГОСТ 28210-89;ГОСТ 17467-88;ГОСТ 18472-88;ГОСТ 28578-90 |