Обозначение | Дата введения | Статус |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | действует |
Название англ.: Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров Нормативные ссылки: ГОСТ 12.0.004-90; ГОСТ 12.1.004-91; ГОСТ 12.1.030-81; ГОСТ 12.2.007.0-75; ГОСТ 12.3.019-80; ГОСТ 20.57.406-81;СТ СЭВ 1622-79 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74; ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3198-81, ГОСТ 18986.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74; ГОСТ 18986.6-73; ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.0-74 Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of electrical parameters. General conditions Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах Нормативные ссылки: СТ СЭВ 1622-79;СТ СЭВ 3408-81, ГОСТ 10863-70; ГОСТ 11294-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.1-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement method of voltage standing-wave ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3408-81, ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.2-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement method of rectified current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает метод измерения выпрямленного тока в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3408-81, IEC 60147-2K; ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.3-74 Диоды полупрводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of output impedance at an intermediate frequency Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц следующие методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте: метод сравнения; метод импедансного моста Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3408-81, IEC 60147-2K; ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.5-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement methods of output noise ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает 2 метода измерения шумового отношения при возбуждении диода: СВЧ мощностью (в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц); постоянным током Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3997-83, IEC 60147-2K; ГОСТ 18986.14-75; ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 19656.3-74; ГОСТ 19656.8-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.6-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм: метод шумового генератора; метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3997-83, IEC 60147-2K; ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 19656.4-74; ГОСТ 19656.5-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.7-74 Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току | 01.07.1975 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3408-81, ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.9-79 Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты | 01.01.1981 | действует |
Название англ.: Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты: метод четырехполюсника; метод последовательного резонанса диода; резонаторный метод. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере Нормативные ссылки: ГОСТ 19656.9-74, ГОСТ 16423-78; ГОСТ 18986.4-73; ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.10-88 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь | 01.07.1989 | действует |
Название англ.: Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц: 1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов; 2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов: а) метод измерительной линии с подвижным зондом; б) метод измерительной линии с фиксированным зондом; в) резонаторный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 19656.10-75; ГОСТ 19656.11-75, ГОСТ 18986.4-73; ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.12-76 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения полного входного сопротивления | 01.07.1977 | действует |
Название англ.: Semicondactor UHF mixer diodes. Measurement method of input impedance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на смесительные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения полного входного сопротивления Нормативные ссылки: ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 19656.1-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.13-76 Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности | 01.01.1979 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF detector diodes. Measurement methods of tangential sensitivity Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ детекторные диоды и устанавливает два метода измерения тангенциальной чувствительности: прямой и косвенный Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.14-85; ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 19656.5-74; ГОСТ 19656.7-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты | 01.01.1981 | действует |
Название англ.: Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74; ГОСТ 18986.4-73; ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 19656.11-75 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.15-84 Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления | 01.01.1986 | действует |
Название англ.: Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивлений Нормативные ссылки: ГОСТ 19656.0-74 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 19656.16-86 Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей | 01.07.1987 | действует |
Название англ.: Semiconductor microwave limiter diodes. Measurement method of break-down and leakage powers Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режиме Нормативные ссылки: ГОСТ 19656.0-74; ГОСТ 23769-79 |
![Версия для печати](/image/print.png) ГОСТ 20271.1-91 Изделия электронные СВЧ. Методы измерения электрических параметров | 01.07.1992 | действует |
Название англ.: Microwave electronic devices. Methods of measuring electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные приборы СВЧ, модули и блоки СВЧ, защитные устройства СВЧ, криоэлектронные изделия СВЧ и изделия СВЧ с термоэлектронным охлаждением, работающие в диапазоне частот от 0,03 до 178,6 ГГц, и устанавливает методы измерения электрических параметров, общих для этих изделий Нормативные ссылки: ГОСТ 20271.0-81; ГОСТ 20271.1-75; ГОСТ 20271.2-82; ГОСТ 20271.4-81; ГОСТ 20271.5-83; ГОСТ 20271.6-83; ГОСТ 20271.7-84; ГОСТ 20271.8-84; ГОСТ 20271.9-86, IEC 60235-2(1972);IEC 60235-2A(1974);IEC 60235-2D(1976); ГОСТ 8.383-80; ГОСТ 12.1.005-88; ГОСТ 12.1.006-84; ГОСТ 12.3.019-80; ГОСТ 20.57.406-81; ГОСТ 2874-82; ГОСТ 6709-72; ГОСТ 9541-75; ГОСТ 13317-89; ГОСТ 16263-70; ГОСТ 22261-82; ГОСТ 23221-78; ГОСТ 23769-79;ОСП-72/87;СП № 1960-70 |