| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры | 01.01.1982 | Действует |
| Заменяет собой: |
| ГОСТ 24460-80 Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры | 01.01.1982 | Действует |
| Заменяет собой: |
 ГОСТ 24613.0-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров | 01.01.1982 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
Стандарт входит в комплекс стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса. |
| ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости | 01.07.1982 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.2-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки | 01.07.1982 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения | 01.07.1982 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.4-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 01.07.1982 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.5-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 01.07.1982 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.6-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции | 01.07.1982 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.7-83 Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления | 01.07.1984 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции | 01.07.1984 | Взамен |
Область применения: Стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора. Заменяет собой:  ГОСТ 22440.4-77 «Переключатели оптоэлектронные логических сигналов. Метод измерения критической скорости изменения напряжения развязки» |
| ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров | 01.07.1984 | Взамен |
Область применения: Стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения. Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары. Заменяет собой: - ГОСТ 22440.8-77 «Переключатели оптоэлектронные логических сигналов. Метод измерения времени включения и выключения»
|
| ГОСТ 24613.10-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней. |
| ГОСТ 24613.11-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.12-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.13-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.14-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.15-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.16-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.17-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | Действует |
| |
| ГОСТ 24613.18-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения сопротивления изоляции | 01.01.1979 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции. |
| ГОСТ 24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току | 01.07.1978 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока. |
| ГОСТ 26949-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения | 01.01.1988 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров: нестабильности по напряжению; нестабильности по току; коэффициента сглаживания пульсаций; температурного коэффициента напряжения; дрейфа выходного напряжения. |
| ГОСТ 26975-86 Микросборки. Термины и определения | 01.01.1989 | Действует |
| Область применения: Стандарт устанавливает термины и определения понятий в области разработки, применения и изготовления микросборок. |
| ГОСТ 27694-88 Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров | 01.01.1990 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров. |
| ГОСТ 27780-88 Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров | 01.01.1990 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем. |
| ГОСТ 28111-89 Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения | 01.07.1990 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах. |
| ГОСТ 28623-90 Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы | 01.01.1991 | Действует |
| Область применения: Стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем. |
| ГОСТ 28814-90 Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения | 01.07.1992 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока. |
| ГОСТ 29106-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения | 01.07.1992 | Действует |
| Область применения: Стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 "Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения" и полностью ему соответствуют. |
| ГОСТ 29107-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы | 01.07.1992 | Действует |
| Область применения: Стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт устанавливает требования для следующих классов и подклассов приборов: комбинаторные и последовательностные цифровые схемы; интегральные схемы запоминающих устройств; интегральные схемы микропроцессоров; приборы с переносом заряда. Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-2-85 "Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы" и полностью ему соответствует. |
| ГОСТ 29108-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы | 01.07.1992 | Действует |
| Область применения: Стандарт устанавливает требования для следующих подклассов аналоговых интегральных схем:
- операционных усилителей ( с двумя входами и одним выходом);
- усилителей низкой частоты, видоусилителей и многоканальных усилителей для дальней связи;
- усилителей высокой частоты и усилителей промежуточной частоты ;
- стабилизаторов напряжения и тока;
- схем переключения аналоговых сигналов.
Стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. |