| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 18604.26-85 Транзисторы биполярные. Методы измерения временных параметров | 01.07.1986 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на биполярные транзисторы и устанавливает методы измерения временных параметров: времени задержки, времени нарастания, времени включения, времени рассасывания, времени спада, времени выключения. |
| ГОСТ 18604.27-86 Транзисторы биполярные мощные высоковольтные. Метод измерения пробивного напряжения коллектор-база (эмиттер-база) при нулевом токе эмиттера (коллектора) | 01.07.1987 | Действует |
| |
| ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | Действует |
| |
| ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 01.01.1975 | Взамен |
Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока I обр. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки. Заменяет собой:  ГОСТ 10963-64 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока» |
| ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 01.01.1975 | Действует |
Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки. Заменяет собой: - ГОСТ 10961-64 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения»
|
| ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 01.01.1975 | Действует |
Заменяет собой: - ГОСТ 10964-64 «Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости» (Сведения из перечня "Указатель государственных стандартов СССР 1980 г.", Издательство стандартов 1980)
|
| ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | Действует |
| |
| ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления, и устанавливает метод измерения заряда восстановления. |
| ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда:
- для импульсных и смесительных диодов СВЧ;
- для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ. |
| ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | Введен впервые |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления. |
| ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения | 01.01.1975 | Действует |
Заменяет собой: - ГОСТ 10965-64 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения максимального импульсного прямого напряжения»
|
| ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 01.07.1976 | Действует |
| |
| ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 01.07.1985 | Действует |
Область применения: Стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов. Заменяет собой: - ГОСТ 18986.11-74 «Диоды полупроводниковые. Методы измерения сопротивления потерь»
|
| ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 01.07.1976 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости. |
| ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 01.07.1976 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора. |
| ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | Действует |
Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны. Заменяет собой: - ГОСТ 18986.14-75 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения дифференциального сопротивления»
- ГОСТ 19656.8-74 «Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения дифференциального сопротивления»
|
| ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации | 01.01.1977 | Действует |
Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации. Заменяет собой: - ГОСТ 14093-68 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации стабилитронов и стабисторов»
|
 ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 01.01.1974 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока. |
| ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | 01.07.1974 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые стабилизаторы и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации. |
| ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 01.07.1974 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25 - 1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости. |
| ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности | 01.01.1975 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов. |
| ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | 01.01.1979 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим t вых. и требования безопасности.. |
| ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | 01.01.1980 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации. |
| ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления | 01.01.1980 | Действует |
Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: -: на переменном токе; - на постоянном токе. Заменяет собой: - ГОСТ 15603-70 «Диоды полупроводниковые. Метод измерения дифференциального сопротивления стабилитронов и стабисторов»
|
| ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума | 01.01.1982 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: - метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; - метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц. |
| ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения | 01.07.1984 | Действует |
| Область применения: Стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения. |
| ГОСТ 19095-73 Транзисторы полевые. Термины, определения и буквенные обозначения | 01.01.1975 | Действует |
| |
| ГОСТ 19138.0-85 Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров | 01.01.1987 | Действует |
| |
| ГОСТ 19138.1-85 Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения | 01.01.1987 | Действует |
| |
| ГОСТ 19138.2-85 Тиристоры триодные. Метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления | 01.01.1987 | Действует |
| |
| ГОСТ 19138.3-85 Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения | 01.01.1987 | Действует |
| |
| ГОСТ 19138.4-73 Тиристоры. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки | 01.07.1975 | Действует |
| |